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適用於電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極(jí)管、液(yè)晶LCD、芯片電阻電容(róng)、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試(shì)驗。
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