電子電器的冷熱衝擊試驗是所有與溫度相關的測試中較嚴格的測試類型，因為它涉及較高的溫（wēn）度變化率。 那麽，電子設備的冷熱衝擊（jī）測試應注意什麽？
通（tōng）常，變化率為30℃/ min以上（shàng）。 在運輸或裝載/卸載過程中需要從溫暖（nuǎn）的地方運輸到寒冷的地方的零件將需要進行（háng）此測試以模擬其實際生活狀況。 通常將測試樣（yàng）品放在低（dī）溫箱中的冷熱衝擊（jī）箱中，並在返回室溫之前的短時（shí）間內移至很高的溫度，並在數個循環後重複（fù）進行。

係統（tǒng）測試有兩種類型，即（jí）空氣對空氣或液體對液體。 空氣對空氣的冷熱衝擊測試使用很高的溫度（dù）變化率。 在兩（liǎng）盒冷熱衝擊箱中，一個房間保持（chí）高溫，另一房間保持低（dī）溫。 使用托架在幾秒鍾內（nèi）在（zài）兩個腔室之間移動被（bèi）測部件。 通常使用全封閉的冷熱（rè）衝擊試驗箱，以避免意外暴露於環境溫度和人員操作的危險。 在液-液係統中，使用雙缸係統和（hé）機械化的籃式裝置在低溫和高溫室（shì）之間移（yí）動被測零件。 當需（xū）要較高熱能的較（jiào）高熱傳遞率時，可使用該係統的冷熱衝（chōng）擊箱。 冷熱衝擊周期的數（shù）量可以在1到250之間變化，其設置（zhì）取決於設備的類型及（jí）其應用。 可以嚐試對產品的（de）壽（shòu）命和用法進行一些類比。 在後麵一個循環（huán）之後，應使用10X至20X放大鏡對（duì）外（wài）殼，導線和（hé）密（mì）封進（jìn）行外部外觀檢（jiǎn）查。 標記（jì）也應至少用3倍放大鏡檢查。 壓（yā）力測試後，難以辨認（rèn）的標（biāo）記或任一損壞情況，電（diàn）線或密封的證據均應（yīng）視為（wéi）失效。
除了（le）與冷熱衝擊測試箱進行的相關測試外，還必須按照組件規格（gé）對樣（yàng）品（pǐn）進行電氣測（cè）試，以檢測由測試引起的電（diàn）氣故障。 電子行業中由（yóu）冷熱衝擊加速的故障機製包括芯片破（pò）裂，封裝破裂，斷線和引線鍵合。 控製溫度循環（huán）測試的兩個行業標準是Mil-Std-883方法（fǎ）1011和（hé）JEDEC JESD22-A106。 軍事（shì）標準883方法1011。
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